$1200≥1Piece/Pieces
| Tipo de Pago: | T/T,Paypal |
| Incoterm: | FOB,CIF,EXW,FCA,DDU |
| Cantidad de pedido mínima: | 1 Piece/Pieces |
| transporte: | Express,Air |
| Hafen: | SHENZHEN |
Sombra:
Modelo: SRP-4
Marca: Hitachi (Oxford)
Lugar De Origen: Estados Unidos
Model: SRP-4
Suit For Machine Model: CMI700,CMI563
Marca: Hitachi(Oxford)
| Unidades de venta | : | Piece/Pieces |
| Tipo de paquete | : | Individual empacado por bolsa de educación física, 1 pcs/caja |
| Ejemplo de una imagen | : |
|
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La sonda SRP-4 es una parte de repuesto de CMI700 (CMI760), instrumento CMI563, sonda CMI700 utilizada para probar el grosor de la CU superficial.
Surface Cooper SRP-4 Datos de la sonda:
Chemical Cooper : 10 μin - 500 μin (0.25 μm - 12.7 μm)
Electroplating Cooper : 0.1 mil - 6 mil (2.5 μm - 152 μm)
Lind con rango : 8 mil - 250 mil (203 μm - 6350 μm)
Precisión : ± 1% (± 0.1 μm) según la placa estándar
Una creña de la sonda Hitachi SRP-4:
Chemical Cooper : desviación estándar 0.2 % ；
Electroplating Cooper : desviación estándar 0.5 %
Resolución : 0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μM ≥ 10 μM, 0.01 μM <10 μM, 0.001 μM <1 μM
| Brand | Hitachi |
| Used on | Oxford/Hitachi CMI563,CMI700,CMI760 instrument |
| Model | SRP-4 Probe |
| MOQ | 1 PCS |
| Lead time | have stock |
Acerca de CMI700 Tester de espesor de cobre de superficie/orificio:
El CMI 760 se puede usar para medir el grosor de cobre y cobre de la superficie en perforaciones. Este sistema de medidor de espesor de benchtop altamente escalable utiliza métodos de microesistencia y corriente de Foucault para lograr mediciones precisas y precisas de grosor de cobre en la superficie y dentro del orificio. El sistema de medición CMI 700 Benchtop es extremadamente versátil y escalable, y su compatibilidad con una variedad de sondas le permite satisfacer las necesidades de una variedad de aplicaciones, incluida la medición de cobre superficial, cobre en perforaciones y cobre en espesor de microholes, así como cobre en las pruebas de calidad de los agujeros.
Al mismo tiempo, el CMI 760 tiene funciones estadísticas avanzadas para el análisis de datos de prueba.
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